コグネックスは8月23日、新世代のウェハーIDリーダIn-Sight 1740 とその付属ソフトウェアであるIn-Sight Explorer Wafer ID のバージョン 4.5.0 を発表した。
＜In-Sight 1740シリーズ＞
In-Sight 1740 シリーズは、幅広いウェハー処理工程や装置において、リーダの設定とメンテナンスがより簡単になったほか、読み取り率と信頼性を大きく向上させるための機能を搭載した。
これらの機能を組み合わせることにより装置の稼働効率を上げ、さらに、ウェハーID の設定でオペレータの介入が必要なくなった。
また、「In-Sight 1740 シリーズ」は、従来のシリコンウェハーだけでなく、LED に使われるサファイアウェハーにも対応している。
「In-Sight 1740 シリーズ」の主な特長には、処理能力強化により、読み取り時間を40％短縮、実績のある優れた内蔵照明システムを搭載、さらに従来システムとも100％の互換性などがある。
新ソフトウェア「In-Sight Explorer Wafer ID （バージョン 4.5.0）」の新機能では、悪条件下に対応する自動画像改善フィルタ、300mm ウェハーに採用されているSEMI M1.15 基準に従い、すべての300mmウェハーに対してT7データマトリックスコードと OCR マークの両方の機能が使用可能、としている。
販売・出荷は2011年8月より。
詳細な内容は下記URL参照。
www.cognex.co.jp/waferID
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