NECは3月28日、東京大学大学院情報理工学系研究科 石川正俊教授室・妹尾拓講師らの研究グループと共同で、「高速カメラ物体認識技術」を開発したと発表した。
＜高速カメラ物体認識の概要＞
この技術は、高速カメラで撮影された毎秒1000フレームの大量の画像から認識に適した画像を瞬時に選別し、高速かつ高精度に検査の合否を判別する。この技術を製造ラインに適用することで、製品検査のための製造ラインの操作が不要となるため、スムーズな導入と生産効率の向上を実現する。
今回、カメラの前を0.03秒で通過・移動する物体について、刻印された5mm程度の微細な文字の違いをリアルタイムで、95％以上の精度で判別できることを確認した。
この技術は、高速カメラで撮影した物体の大量画像について、物体のキズや刻印などを認識・判別するのに有効な画像を瞬時に選別する。さらに、キズや刻印を正確に判別するために、小規模なニューラルネットワークを用いて認識処理を繰り返し、認識結果について多数決方式をとることで、高速かつ高い精度の判別を実現した。
これにより、これまで抜き取り検査しか行えなかった対象の全品検査が可能となり、製造ラインにおける異物混入防止や品質の均一化に貢献し品質管理を強化する。
製造ライン上を高速に移動するビンや缶のラベルなどの外観検査、錠剤や食品の異物検知などに適用が期待されるとしている。
